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主題:科學(xué)家發(fā)明原子級(jí)“透視鏡” 半導(dǎo)體缺陷無所遁形
財(cái)聯(lián)社 美國(guó)密歇根州立大學(xué) (MSU) 的物理學(xué)家們開發(fā)了一種新的方法,可以以原子尺度分析半導(dǎo)體。這種方法將高分辨率顯微鏡與超快激光結(jié)合起來,可以以前所未有的方式檢測(cè)半導(dǎo)體的“缺陷”。這項(xiàng)研究由密歇根州立大學(xué)杰里考恩實(shí)驗(yàn)物理學(xué)資助講座教授泰勒科克爾領(lǐng)導(dǎo)。隨著設(shè)備變得越來越小、功能越來越強(qiáng)大,能夠檢查設(shè)備組成材料的工具變得至關(guān)重要。
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